适用材料：
单晶硅Si、多晶硅mc-Si、非晶硅α-Si、砷化镓GaAs、镓铟磷GaInP、磷化铟InP、锗Ge、*CdTe、铜铟硒CIS、铜铟镓硒CIGS、染料敏化DSSC、有机太阳电池Organic Solar Cell、聚合物太阳电池Polymer Solar Cell等。
适用结构：
单结Single junction、多结multi junction、异质结HIT、薄膜thin film、高聚光HPV 等。
系统特点：
多种规格光源可选，保证从200-2500nm 范围辐射稳定、能量高；
高精度分光系统，保证良好的波长准确度和重复性，杂散光小，配自动滤光片轮，消除多级光谱影响；
相关法检测，配合电磁屏蔽技术，具有超强弱信号处理能力，有效提高信噪比，保证测量精度；
兼容直流和交流两种测量方式，更针对不同种类的太阳电池配置不同类型的前置放大器，确保弱信号检测，模式切换方便；
IQE 和EQE 同点同时测量；
针对不同的测量方式和电池片种类配置不同类型的样品室及专利样品架，夹持方便，电极接触好，对弱信号测试*小；
精密快门控制光路闭合；
可选恒温、变温设备，方便对电池片进行温度控制；
可选*空吸附样品测试台，可定制专属测试台；
高性能信号自动切换控制，完成各类信号的切换；
可选光路监视，有效扣除光源不稳定带来的测试误差；
系统软件：
集成了分光系统、多级谱滤除装置、弱信号处理系统等的参数设置和选择；
自动扫描、信号放大、A/D、数据采集；
兼容通量法和均匀照度法两种测量方式，并根据不同测量方式采用不同的公式进行数据计算与处理；
图、表文件自动生成与显示；
多种格式的数据和图片备份和打印输出功能；
多组数据对比功能；
自动*pping；
粗大误差的自动去除，系统误差、线性误差、周期误差、T 误差的自动校验。
规格指南：
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CME-SPEC1 |
CME- SPEC2 |
CME- SPEC3 |
CME-SPE* |
CME-SPEC5 |
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光谱范围 |
200~1200nm |
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200~1800nm |
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测试材料 |
通用 |
通用 |
晶硅 |
薄膜 |
燃料敏化 |
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系统性能 |
系统测量重复性 |
<0.6%（@300~400nm及1000nm以上）；<0.3%(@400~1000nm) |
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单次测量时间 |
光谱响应度测试不超过1分钟；内量子效率测试不超过5分钟（5nm扫描步长，300~1100nm扫描范围） |
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光源部分 |
氙灯 |
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氙灯、溴钨灯双光源 |
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光学系统 部分 |
测试光斑 |
直径1~38mm可调 |
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光栅 |
电动三光栅塔台，200~2500nm |
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滤光片 |
自动滤光片轮 |
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单色光光谱带宽 |
0.2-10 nm （用户可调） |
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单色光波长准确性 |
&plu*n;0.2nm（@1200g/mm光栅） |
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调制频率 |
5~1000Hz |
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扫描步长 |
默认5nm (0.05nm~10nm任意可选） |
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数据采集 部分 |
DC模式 |
含前置放大的直流数据*，双通道输入，灵敏度100nA，16bit数据采集 |
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AC模式 |
锁相放大器 SR830，灵敏度2nV |
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标配模式 |
AC/DC |
AC/DC |
AC/DC |
AC/DC |
DC |
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样品测试部分 |
标准电池 |
20mm*20mm，可水冷，含温度传感器，中国计量*研究院校正，单晶硅、多晶硅、非晶硅可选 |
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手动样品台 |
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自动样品台 |
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探针样品架，30*30mm |
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选配 |
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薄膜样品架，100*100mm |
选配 |
选配 |
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*空吸附样品架，156*156mm |
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薄膜电池*样品室 |
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